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Archive: deadline passed on 04/19/2024

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Completed

Stuttgart, Universität - Raster-Kraft-Mikroskop für nanomechanische und elektrochemische Charakterisierung

Buyer:
Universität Stuttgart
Region:
Stuttgart, DEU
Published:
03/19/2024
Deadline
04/19/2024Expired

Timeline

  1. Published
  2. Submission deadline

Description

Die Universität Stuttgart sucht ein Raster-Kraft-Mikroskop (AFM) für schnelle, nanomechanische und elektrochemische Charakterisierungen. Das Gerät soll zur Untersuchung von biologischen Proben wie DNA-Origamis, Meta-Oberflächen, Hydrogelen, TOM-Komplexen, Zellen und Zellimitaten mit Größen von 2 nm bis mehreren 10 µm eingesetzt werden. Es muss hohe Geschwindigkeiten und räumliche Auflösung im Nanometerbereich unter kontrollierbaren Bedingungen ermöglichen.

Lots (1)

  • Lot LOT-0001

    Raster-Kraft-Mikroskop für schnelle, nanomechanische und elektrochemische Charakterisierung

Classification

CPV Codes
38514200Labor- & Messgeräte
NUTS Codes
DE111

Details

Deadline
04/19/2024
Reference Number
24-027
Platform
Bund, TED

Contact Information

Contact Person
1000
Phone
+49 7116850
Address
Universität StuttgartKeplerstraße 770174 StuttgartDEU

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