Stuttgart, Universität - Raster-Kraft-Mikroskop für nanomechanische und elektrochemische Charakterisierung
Diese Ausschreibung ist beendet
Sie sehen eine archivierte Ausschreibung. Melden Sie sich kostenlos an, um aktuelle Ausschreibungen zu durchsuchen oder ältere Vergaben frei zu browsen.
Zeitplan
Beschreibung
Die Universität Stuttgart sucht ein Raster-Kraft-Mikroskop (AFM) für schnelle, nanomechanische und elektrochemische Charakterisierungen. Das Gerät soll zur Untersuchung von biologischen Proben wie DNA-Origamis, Meta-Oberflächen, Hydrogelen, TOM-Komplexen, Zellen und Zellimitaten mit Größen von 2 nm bis mehreren 10 µm eingesetzt werden. Es muss hohe Geschwindigkeiten und räumliche Auflösung im Nanometerbereich unter kontrollierbaren Bedingungen ermöglichen.
Lose (1)
Raster-Kraft-Mikroskop für schnelle, nanomechanische und elektrochemische Charakterisierung
Klassifizierung
CPV-Codes
NUTS-Codes
Details
- Angebotsfrist
- 19.04.2024
- Referenznummer
- 24-027
- Plattform
- Bund, TED
- Quelle
- Originalquelle
Kontaktinformationen
- Ansprechpartner
- 1000
- Telefon
- +49 7116850
- Adresse
- Universität StuttgartKeplerstraße 770174 StuttgartDEU
Interesse an dieser Ausschreibung?
Verwalten Sie Ihre Ausschreibungen mit procuris - KI-gestützte Analyse und automatisches Matching.
In procuris öffnen