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Stuttgart, Universität - Raster-Kraft-Mikroskop für nanomechanische und elektrochemische Charakterisierung

Abgeschlossen
Universität Stuttgart
Stuttgart, DEU
Veröffentlicht: 19.03.2024

Diese Ausschreibung ist beendet

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Zeitplan

Bekanntmachung19.03.24
Angebotsfrist19.04.24

Beschreibung

Die Universität Stuttgart sucht ein Raster-Kraft-Mikroskop (AFM) für schnelle, nanomechanische und elektrochemische Charakterisierungen. Das Gerät soll zur Untersuchung von biologischen Proben wie DNA-Origamis, Meta-Oberflächen, Hydrogelen, TOM-Komplexen, Zellen und Zellimitaten mit Größen von 2 nm bis mehreren 10 µm eingesetzt werden. Es muss hohe Geschwindigkeiten und räumliche Auflösung im Nanometerbereich unter kontrollierbaren Bedingungen ermöglichen.

Lose (1)

Los 24-027

Raster-Kraft-Mikroskop für schnelle, nanomechanische und elektrochemische Charakterisierung

Klassifizierung

CPV-Codes

38514200Labor- & Messgeräte

NUTS-Codes

DE111

Details

Angebotsfrist
19.04.2024
Referenznummer
24-027
Plattform
Bund, TED

Kontaktinformationen

Ansprechpartner
1000
Telefon
+49 7116850
Adresse
Universität StuttgartKeplerstraße 770174 StuttgartDEU

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