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Archive: deadline passed on 08/17/2026

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Completed

IFOS GmbH Kaiserslautern - Lieferung von Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)

Buyer:
Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbH
Region:
DEU
Published:
07/15/2026
Deadline
08/17/2026Expired

Timeline

  1. Published
  2. Submission deadline

Description

Ausschreibung für die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme von zwei hochspezialisierten Systemen: einem Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) für präzise Probenpräparation und hochauflösende Analyse, sowie einem Transmissionselektronenmikroskop (TEM) für die strukturelle, chemische und elektronische Charakterisierung von Materialien. Beide Systeme werden als zentrale Analyseplattformen für wissenschaftliche Forschung und industrielle Auftragsanalytik eingesetzt. Die Angebotsfrist endet am 17.08.2026.

Lots (2)

  • Lot LOT-0002

    Transmissionselektronenmikroskop (TEM)

  • Lot LOT-0001

    Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB)

Classification

CPV Codes
38000000Labor- & Messgeräte
NUTS Codes
DEB32

Details

Deadline
08/17/2026
Reference Number
25-1696-1707
Platform
Bund, TED

Contact Information

Phone
+49 (0) 631 20573-0
Address
Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbHTrippstadter Straße 12067663 KaiserslauternDEU

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