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IFOS GmbH Kaiserslautern - Lieferung von Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)

Abgeschlossen
Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbH
DEU
Veröffentlicht: 15.07.2026

Diese Ausschreibung ist beendet

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Zeitplan

Bekanntmachung15.07.26
Angebotsfrist17.08.26

Beschreibung

Ausschreibung für die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme von zwei hochspezialisierten Systemen: einem Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) für präzise Probenpräparation und hochauflösende Analyse, sowie einem Transmissionselektronenmikroskop (TEM) für die strukturelle, chemische und elektronische Charakterisierung von Materialien. Beide Systeme werden als zentrale Analyseplattformen für wissenschaftliche Forschung und industrielle Auftragsanalytik eingesetzt. Die Angebotsfrist endet am 17.08.2026.

Lose (2)

Los 1

Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB)

Los 2

Transmissionselektronenmikroskop (TEM)

Klassifizierung

CPV-Codes

38000000Labor- & Messgeräte

NUTS-Codes

DEB32

Details

Angebotsfrist
17.08.2026
Referenznummer
25-1696-1707
Plattform
Bund, TED

Kontaktinformationen

Telefon
+49 (0) 631 20573-0
Adresse
Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbHTrippstadter Straße 12067663 KaiserslauternDEU

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