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Archiv: Frist abgelaufen am 17.08.2026

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Abgeschlossen

IFOS GmbH Kaiserslautern - Lieferung von Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)

Auftraggeber:
Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbH
Region:
DEU
Veröffentlicht:
15.07.2026
Angebotsfrist
17.08.2026Abgelaufen

Zeitplan

  1. Bekanntmachung
  2. Angebotsfrist

Beschreibung

Ausschreibung für die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme von zwei hochspezialisierten Systemen: einem Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) für präzise Probenpräparation und hochauflösende Analyse, sowie einem Transmissionselektronenmikroskop (TEM) für die strukturelle, chemische und elektronische Charakterisierung von Materialien. Beide Systeme werden als zentrale Analyseplattformen für wissenschaftliche Forschung und industrielle Auftragsanalytik eingesetzt. Die Angebotsfrist endet am 17.08.2026.

Lose (2)

  • Los LOT-0002

    Transmissionselektronenmikroskop (TEM)

  • Los LOT-0001

    Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB)

Klassifizierung

CPV-Codes
38000000Labor- & Messgeräte
NUTS-Codes
DEB32

Details

Angebotsfrist
17.08.2026
Referenznummer
25-1696-1707
Plattform
Bund, TED

Kontaktinformationen

Telefon
+49 (0) 631 20573-0
Adresse
Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbHTrippstadter Straße 12067663 KaiserslauternDEU

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