Beschaffung eines Femtosekunden-Lasersystems mit Ti:Sa-Verstärker und Detektionssystem - Dresden
- Buyer:
- Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung e.V.
- Region:
- Dresden, DEU
Archive: deadline passed on 07/26/2024
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Completed
Ausschreibung für ein hochmodernes Rasterkraftmikroskop (AFM) für Forschungszwecke in Heidelberg. Das AFM muss topographische Charakterisierung sowie die Messung piezo-/ferroelektrischer Eigenschaften, elektronischer/ionischer Leitfähigkeit, Oberflächenpotentiale und mechanischer Eigenschaften auf großflächigen Substraten (3x3x2 cm oder mehr) ermöglichen. Gefordert sind Messmodi zur Untersuchung weicher organischer Stoffe mit sub-Nanometer Auflösung, rausch-/driftfreier Closed-Loop-Betrieb, steuerbare Probentemperatur und Hochspannungsbetrieb. Systeminstallation, Schulung und Lieferung sind inklusive. Maximales Budget: 350.000,00 EUR (inkl. MwSt./Zoll/Skonto).
Vergabeverfahren zur Lieferung eines Rasterkraftmikroskop
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