Heidelberg - Lieferung eines Rasterkraftmikroskops für Forschungszwecke

Ausschreibung für ein hochmodernes Rasterkraftmikroskop (AFM) für Forschungszwecke in Heidelberg. Das AFM muss topographische Charakterisierung sowie die Messung piezo-/ferroelektrischer Eigenschaften, elektronischer/ionischer Leitfähigkeit, Oberflächenpotentiale und mechanischer Eigenschaften auf großflächigen Substraten (3x3x2 cm oder mehr) ermöglichen. Gefordert sind Messmodi zur Untersuchung weicher organischer Stoffe mit sub-Nanometer Auflösung, rausch-/driftfreier Closed-Loop-Betrieb, steuerbare Probentemperatur und Hochspannungsbetrieb. Systeminstallation, Schulung und Lieferung sind inklusive. Maximales Budget: 350.000,00 EUR (inkl. MwSt./Zoll/Skonto).