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Archive: deadline passed on 04/03/2024

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Completed

Fraunhofer ISIT - Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für 200mm Wafer

Buyer:
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
Region:
DEU
Published:
02/29/2024
Deadline
04/03/2024Expired

Timeline

  1. Published
  2. Submission deadline

Description

Beschaffung eines Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskops mit integrierter EDX-Analyse für die Inspektion und Analyse von 200mm Wafern. Das Gerät wird am Fraunhofer-Institut für Siliziumtechnologie ISIT eingesetzt.

Lots (1)

  • Lot LOT-0000

    Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern - PR468071 -2390 - W

Classification

CPV Codes
38511100Labor- & Messgeräte
NUTS Codes
DEF0E

Details

Deadline
04/03/2024
Reference Number
PR468071 -2390 - W
Platform
Bund, TED

Contact Information

Phone
+49 22894990
Address
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12Hansastraße 27c80686 MünchenDEU

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