Zum Hauptinhalt springen
Zurück zu AusschreibungenAlle Ausschreibungen vom 29. Februar 2024

Fraunhofer ISIT - Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für 200mm Wafer

Abgeschlossen
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
DEU
Veröffentlicht: 29.02.2024

Diese Ausschreibung ist beendet

Sie sehen eine archivierte Ausschreibung. Melden Sie sich kostenlos an, um aktuelle Ausschreibungen zu durchsuchen oder ältere Vergaben frei zu browsen.

Kostenlos suchenArchiv durchstöbern

Zeitplan

Bekanntmachung29.02.24
AngebotsfristNicht verfügbar

Beschreibung

Beschaffung eines Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskops mit integrierter EDX-Analyse für die Inspektion und Analyse von 200mm Wafern. Das Gerät wird am Fraunhofer-Institut für Siliziumtechnologie ISIT eingesetzt.

Lose (1)

Los LOT-0000

Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern - PR468071 -2390 - W

Klassifizierung

CPV-Codes

38511100Labor- & Messgeräte

NUTS-Codes

DEF0E

Details

Angebotsfrist
Nicht verfügbar
Referenznummer
PR468071 -2390 - W
Plattform
Bund, TED

Kontaktinformationen

Telefon
+49 22894990
Adresse
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12Hansastraße 27c80686 MünchenDEU

Interesse an dieser Ausschreibung?

Verwalten Sie Ihre Ausschreibungen mit procuris - KI-gestützte Analyse und automatisches Matching.

In procuris öffnen

Weitere Ausschreibungen

23 Tage verbleibend

Fraunhofer-Gesellschaft - Evaluationsboard

Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
Fraunhofer FKIE Warenannahme Fraunhoferstraße 20 53343 Wachtberg, DEU
€
Frist: 16.10.2026