Beschaffung eines Femtosekunden-Lasersystems mit Ti:Sa-Verstärker und Detektionssystem - Dresden
- Buyer:
- Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung e.V.
- Region:
- Dresden, DEU
Archive: deadline passed on 07/23/2024
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Completed
Ausschreibung eines Wafer Level Rasterkraftmikroskops für optische Absorptionsmessungen mit nm-Auflösung für die Fraunhofer-Gesellschaft (FhG) am Standort ENAS. Das System wird für die Bearbeitung von MEMS-Wafern in einem CMOS-kompatiblen Reinraum der Klasse 6 (EN ISO 14644-1) eingesetzt. Die detaillierte Konfiguration ist nach dem Stand der Technik durch den Anbieter zu bestimmen und abzustimmen. Optionale Artikel sind separat auszuweisen.
Equipment- & Prozessspezifikationen Wafer Level Rasterkraftmikroskop für optische Absorptionsmessungen mit nm-Auflösung - PR659318 - 3340 - W
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