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Fraunhofer-Gesellschaft - Wafer Level Rasterkraftmikroskop für optische Absorptionsmessungen

Abgeschlossen
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
DEU
Veröffentlicht: 21.06.2024

Diese Ausschreibung ist beendet

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Zeitplan

Bekanntmachung21.06.24
AngebotsfristNicht verfügbar

Beschreibung

Ausschreibung eines Wafer Level Rasterkraftmikroskops für optische Absorptionsmessungen mit nm-Auflösung für die Fraunhofer-Gesellschaft (FhG) am Standort ENAS. Das System wird für die Bearbeitung von MEMS-Wafern in einem CMOS-kompatiblen Reinraum der Klasse 6 (EN ISO 14644-1) eingesetzt. Die detaillierte Konfiguration ist nach dem Stand der Technik durch den Anbieter zu bestimmen und abzustimmen. Optionale Artikel sind separat auszuweisen.

Lose (1)

Los LOT-0000

Equipment- & Prozessspezifikationen Wafer Level Rasterkraftmikroskop für optische Absorptionsmessungen mit nm-Auflösung - PR659318 - 3340 - W

Klassifizierung

CPV-Codes

38600000Labor- & Messgeräte

NUTS-Codes

DED41

Details

Angebotsfrist
Nicht verfügbar
Referenznummer
PR659318 - 3340 - W
Plattform
Bund, TED

Kontaktinformationen

Telefon
+49 00000000
Adresse
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12Hansastraße 27c80686 MünchenDEU

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