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Archive: deadline passed on 08/17/2026

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Completed

Fraunhofer-Gesellschaft, Berlin - FIB & SEM Dualbeam System

Buyer:
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
Region:
Berlin, DEU
Published:
06/23/2026
Deadline
08/17/2026Expired

Timeline

  1. Published
  2. Submission deadline

Description

Beschaffung eines feldfreien fokussierten Ionenstrahlsystems (FIB-SEM) kombiniert mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop. Das System dient der Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren, Resists und Halbleitertechnik-Prozessprodukten. Programmierbare und automatisierte Routinen sind erwünscht. Optionen: Fortgeschrittenenschulung, Gasinjektionssystem, Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien.

Lots (1)

  • Lot LOT-0000

    FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P

Classification

CPV Codes
38512100Labor- & Messgeräte42900000Industriemaschinen
NUTS Codes
DE300

Details

Deadline
08/17/2026
Reference Number
PR1216644-3220-P
Platform
Bund, TED

Contact Information

Phone
+49 00000000
Address
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12Hansastraße 27c80686 MünchenDEU

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