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Archiv: Frist abgelaufen am 17.08.2026

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Abgeschlossen

Fraunhofer-Gesellschaft, Berlin - FIB & SEM Dualbeam System

Auftraggeber:
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Region:
Berlin, DEU
Veröffentlicht:
23.06.2026
Angebotsfrist
17.08.2026Abgelaufen

Zeitplan

  1. Bekanntmachung
  2. Angebotsfrist

Beschreibung

Beschaffung eines feldfreien fokussierten Ionenstrahlsystems (FIB-SEM) kombiniert mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop. Das System dient der Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren, Resists und Halbleitertechnik-Prozessprodukten. Programmierbare und automatisierte Routinen sind erwünscht. Optionen: Fortgeschrittenenschulung, Gasinjektionssystem, Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien.

Lose (1)

  • Los LOT-0000

    FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P

Klassifizierung

CPV-Codes
38512100Labor- & Messgeräte42900000Industriemaschinen
NUTS-Codes
DE300

Details

Angebotsfrist
17.08.2026
Referenznummer
PR1216644-3220-P
Plattform
Bund, TED

Kontaktinformationen

Telefon
+49 00000000
Adresse
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12Hansastraße 27c80686 MünchenDEU

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