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Fraunhofer-Gesellschaft, Berlin - FIB & SEM Dualbeam System

Abgeschlossen
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
Berlin, DEU
Veröffentlicht: 23.06.2026

Diese Ausschreibung ist beendet

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Zeitplan

Bekanntmachung23.06.26
AngebotsfristNicht verfügbar

Beschreibung

Beschaffung eines feldfreien fokussierten Ionenstrahlsystems (FIB-SEM) kombiniert mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop. Das System dient der Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren, Resists und Halbleitertechnik-Prozessprodukten. Programmierbare und automatisierte Routinen sind erwünscht. Optionen: Fortgeschrittenenschulung, Gasinjektionssystem, Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien.

Lose (1)

Los LOT-0000

FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P

Klassifizierung

CPV-Codes

38512100Labor- & Messgeräte42900000Industriemaschinen

NUTS-Codes

DE300

Details

Angebotsfrist
Nicht verfügbar
Referenznummer
PR1216644-3220-P
Plattform
Bund, TED

Kontaktinformationen

Telefon
+49 00000000
Adresse
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12Hansastraße 27c80686 MünchenDEU

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€
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