Tender18 days remaining
Vollautomatisiertes inverses Fluoreszenzmikroskop für multimodale Bildgebung - Ilmenau
- Buyer:
- Technische Universität Ilmenau, Dezernat Finanzen, Zentrale Vergabestelle
Deadline: 10/27/2026
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Archive: deadline passed on 07/10/2024
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Completed
ETH Zürich ScopeM - Rasterelektronen- und fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM)
- Buyer:
- ETH Zürich ScopeM
- Region:
- Zürich
- Published:
- 06/02/2024
- Deadline
- 07/10/2024Expired
Timeline
- Published
- Submission deadline
Description
Ausschreibung eines leistungsfähigen Zweistrahl-Geräts (FIB-SEM) für Probenpräparation und Charakterisierung im Mikro- und Nano-Bereich. Das Gerät kombiniert einen fokussierten Ionenstrahl (Gallium) mit einem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop. Details sind der Spezifikationsdokumentation zu entnehmen.
Lots (1)
- Lot LOT-0000
Rasterelektronen- und fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM)
Classification
- CPV Codes
- 38511100Labor- & Messgeräte
- NUTS Codes
- CH040
Details
- Deadline
- 07/10/2024
- Platform
- TED
- Source
- Original source
Contact Information
- Contact Person
- Dr. Nicolas Blanc
- Phone
- +41 44 632 11 11
- Address
- ETH Zürich ScopeMOtto-Stern-Weg 3ZürichCHE
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- 04318 Leipzig, Permoser Strasse 15, DEU
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