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ETH Zürich ScopeM - Rasterelektronen- und fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM)

Abgeschlossen
ETH Zürich ScopeM
Zürich
Veröffentlicht: 02.06.2024

Diese Ausschreibung ist beendet

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Zeitplan

Bekanntmachung02.06.24
Angebotsfrist10.07.24

Beschreibung

Ausschreibung eines leistungsfähigen Zweistrahl-Geräts (FIB-SEM) für Probenpräparation und Charakterisierung im Mikro- und Nano-Bereich. Das Gerät kombiniert einen fokussierten Ionenstrahl (Gallium) mit einem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop. Details sind der Spezifikationsdokumentation zu entnehmen.

Lose (1)

Los 282309-

Rasterelektronen- und fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM)

Klassifizierung

CPV-Codes

38511100Labor- & Messgeräte

Details

Angebotsfrist
10.07.2024
Plattform
TED

Kontaktinformationen

Ansprechpartner
Dr. Nicolas Blanc
Telefon
+41 44 632 11 11
Adresse
ETH Zürich ScopeMOtto-​Stern-Weg 3 ZürichCHE

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