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Archive: deadline passed on 03/17/2025

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Completed

ETH Zürich - Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Baumaterialien

Buyer:
ETH Zürich - Abt. Procurement & Export Services
Region:
Zürich
Published:
02/05/2025
Deadline
03/17/2025Expired

Timeline

  1. Published
  2. Submission deadline

Description

Das Institut für Baustoffe (IfB) der ETH Zürich beschafft ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die Analyse von Baumaterialien in Forschung und Lehre. Das System soll für die Bildgebung mittels SEM und EDS-Analyse eingesetzt werden. Die Anschaffung ist von der Beschaffungsreife und Kreditverfügbarkeit abhängig.

Lots (1)

  • Lot LOT-0000

    Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Baumaterialien

Classification

CPV Codes
38511000Labor- & Messgeräte
NUTS Codes
CH040

Details

Deadline
03/17/2025
Platform
TED

Contact Information

Phone
+41446321111
Address
ETH Zürich - Abt. Procurement & Export ServicesBinzmühlestrasse 130ZürichCHE

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