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ETH Zürich - Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Baumaterialien

Abgeschlossen
ETH Zürich - Abt. Procurement & Export Services
Zürich
Veröffentlicht: 05.02.2025

Diese Ausschreibung ist beendet

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Zeitplan

Bekanntmachung05.02.25
Angebotsfrist17.03.25

Beschreibung

Das Institut für Baustoffe (IfB) der ETH Zürich beschafft ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die Analyse von Baumaterialien in Forschung und Lehre. Das System soll für die Bildgebung mittels SEM und EDS-Analyse eingesetzt werden. Die Anschaffung ist von der Beschaffungsreife und Kreditverfügbarkeit abhängig.

Lose (1)

Los 1

Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Baumaterialien

Klassifizierung

CPV-Codes

38511000Labor- & Messgeräte

Details

Angebotsfrist
17.03.2025
Plattform
TED

Kontaktinformationen

Telefon
+41446321111
Adresse
ETH Zürich - Abt. Procurement & Export ServicesBinzmühlestrasse 130 ZürichCHE

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