Ausschreibung5 Tage verbleibend
Messsystem zur Ermittlung von Eigenspannungen - Cottbus
- Auftraggeber:
- Brandenburgische Technische Universität Cottbus-Senftenberg
- Region:
- 03046 Cottbus, DEU
Frist: 20.11.2026
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Archiv: Frist abgelaufen am 17.03.2025
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Abgeschlossen
ETH Zürich - Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Baumaterialien
- Auftraggeber:
- ETH Zürich - Abt. Procurement & Export Services
- Region:
- Zürich
- Veröffentlicht:
- 05.02.2025
- Angebotsfrist
- 17.03.2025Abgelaufen
Zeitplan
- Bekanntmachung
- Angebotsfrist
Beschreibung
Das Institut für Baustoffe (IfB) der ETH Zürich beschafft ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die Analyse von Baumaterialien in Forschung und Lehre. Das System soll für die Bildgebung mittels SEM und EDS-Analyse eingesetzt werden. Die Anschaffung ist von der Beschaffungsreife und Kreditverfügbarkeit abhängig.
Lose (1)
- Los LOT-0000
Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Baumaterialien
Klassifizierung
- CPV-Codes
- 38511000Labor- & Messgeräte
- NUTS-Codes
- CH040
Details
- Angebotsfrist
- 17.03.2025
- Plattform
- TED
- Quelle
- Originalquelle
Kontaktinformationen
- Telefon
- +41446321111
- Adresse
- ETH Zürich - Abt. Procurement & Export ServicesBinzmühlestrasse 130ZürichCHE
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- Brandenburgische Technische Universität Cottbus-Senftenberg
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