Archive: deadline passed on 04/09/2025
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Die Fraunhofer-Gesellschaft sucht ein Diamond-based microscope (EMFT-04) für Messungen von Magnetfeldern mittels NV-Zentren in Diamant. Das Gerät soll eine Weitfeldmessung der Magnetfeldverteilung von Mikrochips ermöglichen, primär zur Fehleranalyse und Rekonstruktion von Stromflüssen in komplexen Chips. Es bietet Vorteile gegenüber anderen Messmethoden durch hohe Sensitivität, Auflösung und Verzicht auf kryogene Gase.
Diamond-based microscope (EMFT-04) - PR878224-2270-P
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