Dünnschicht-Röntgendiffraktometer - Mainz
- Buyer:
- Johannes Gutenberg-Universität Mainz
- Region:
- Mainz, DEU
Archive: deadline passed on 07/21/2026
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Completed
Beschaffung eines ToF-SIMS Systems (Sekundärionen-Massenspektrometrie mit Flugzeit-Massenspektrometer) zur Lieferung, Installation, Inbetriebnahme, Einweisung und Schulung. Das System dient der hochaufgelösten chemischen Oberflächencharakterisierung, bildgebenden Analytik, Tiefenprofilierung und 3D-Rekonstruktion für industrielle und universitäre Forschung. Es muss UHV-Betrieb, hohe Massenauflösung, laterale Auflösung und kontrollierten Materialabtrag ermöglichen.
ToF-SIMS 2026 (Neuausschreibung)
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