Fraunhofer IISB Erlangen - Beschaffung Digitalmikroskop für Halbleiteranalyse
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Zeitplan
Beschreibung
Beschaffung eines Digitalmikroskops für F&E-Arbeiten im Bereich der Halbleitermaterialherstellung am Fraunhofer IISB in Erlangen. Das Gerät dient der detaillierten Analyse von Beschichtungen auf Laborproben (cm-Maßstab) und Bauteilen hinsichtlich Defektstrukturen, Oberflächenmorphologie und Schichtdicke. Ein großer Arbeitsabstand und eine Varianz an Objektiven sind erforderlich. Ein portables Makroobjektiv für die Analyse größerer Bauteile ist ebenfalls Teil der Anforderung.
Lose (1)
PR1037663 - Digitalmikroskop
Klassifizierung
NUTS-Codes
Details
- Angebotsfrist
- 17.11.2025
- Plattform
- Bund
- Quelle
- Originalquelle
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