Fraunhofer-Gesellschaft - CDSEM für Strukturbreiten-Analyse
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Zeitplan
Beschreibung
Die Fraunhofer-Gesellschaft sucht ein CDSEM (Critical Dimension Scanning Electron Microscope) zur automatisierten Strukturbreiten-Analyse an strukturierten Elektronenstrahllithographie-Lacken auf 200 mm-Wafern. Das System soll über Optionen für verschiedene Wafergrößen (150 mm, 100 mm, 3'', 2'') sowie Bruchstücke verfügen. Zusätzliche Optionen umfassen einstellbaren Strahlstrom, rauscharmen BSE-Detektor und Driftkorrektur. Eine SECS/GEM-Schnittstelle für Datenausgabe ist gewünscht. Serviceverträge über 2, 4 oder 6 Jahre sind optional.
Lose (1)
CDSEM - PR619473-2270-W
Klassifizierung
CPV-Codes
NUTS-Codes
Details
- Angebotsfrist
- Nicht verfügbar
- Referenznummer
- PR619473-2270-W
- Plattform
- Bund, TED
- Quelle
- Originalquelle
Kontaktinformationen
- Telefon
- +49 00000000
- Adresse
- Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12Hansastraße 27c80686 MünchenDEU
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