Fraunhofer-Gesellschaft, Berlin - In-Line Rasterkraftmikroskopie (AFM)
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Zeitplan
Beschreibung
Die Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12, schreibt ein In-Line Rasterkraftmikroskop (AFM) für ihre Pilotlinie zur heterogenen Integration aus. Das Gerät dient zur Oberflächencharakterisierung von Wafern bis 300 mm Durchmesser, insbesondere zur Messung der Oberflächenrauheit und zur Detektion von Dishing oder Vorsprüngen vor Bond-Prozessen. Eine Integration in ein bestehendes MES und Datenbankanbindung sind von Vorteil. Verschiedene Scan-Modi sind erforderlich.
Lose (1)
In-Line AFM (IZM-15.1) - PR990603-2590-P
Klassifizierung
CPV-Codes
NUTS-Codes
Details
- Angebotsfrist
- 07.07.2025
- Referenznummer
- PR990603-2590-P
- Plattform
- Bund, TED
- Quelle
- Originalquelle
Kontaktinformationen
- Telefon
- +49 00000000
- Adresse
- Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12Hansastraße 27c80686 MünchenDEU
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