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Archiv: Frist abgelaufen am 13.10.2026

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Abgeschlossen

Frankfurt (Oder), IHP GmbH - Leibniz-Institut - Semi-automatisches Wafer-Prober-System

Auftraggeber:
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Region:
Frankfurt (Oder), DEU
Veröffentlicht:
11.09.2026
Angebotsfrist
13.10.2026Abgelaufen

Zeitplan

  1. Bekanntmachung
  2. Angebotsfrist

Beschreibung

Beschaffung eines semi-automatischen Wafer-Prober-Systems für die elektrische und temperaturabhängige Charakterisierung von 200 mm Wafern. Das System muss DC- und gepulste I-V-Messungen sowie niederfrequente Impedanzmessungen bis 10 MHz unterstützen und in das bestehende Keithley 4200A-SCS integriert werden. Der Umfang beinhaltet Prober, temperaturkontrollierten Chuck, elektrische Sonden, optische Systeme, Steuerungshardware und -software, Verkabelung, Schnittstellen, Installation, Inbetriebnahme, Schulung und Integrationsunterstützung. Lieferort ist Frankfurt (Oder).

Lose (1)

  • Los LOT-0001

    Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers

Klassifizierung

CPV-Codes
38540000Labor- & Messgeräte
NUTS-Codes
DE403

Details

Angebotsfrist
13.10.2026
Referenznummer
IHP-2026-045
Plattform
Bund, TED

Kontaktinformationen

Telefon
+49 3318661719
Adresse
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative MikroelektronikIm Technologiepark 2515236 Frankfurt (Oder)DEU

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