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Siegen - Beschaffung eines Rasterkraftmikroskops (AFM)

Abgeschlossen
Universität Siegen
Siegen, DEU
Veröffentlicht: 17.01.2025

Diese Ausschreibung ist beendet

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Zeitplan

Bekanntmachung17.01.25
Angebotsfrist20.02.25

Beschreibung

Beschaffung eines Rasterkraftmikroskops (AFM) für die Universität Siegen. Das Gerät dient der Topologie-Charakterisierung im Bereich Halbleiterbauteile und wird in den universitären Forschungsschwerpunkten Sensorik und Materialwissenschaften eingesetzt. Der Scanbereich beträgt mindestens 90µm in x- und y-Richtung. Das Budget beträgt 105.000 EUR inkl. MwSt.

Lose (1)

Los 02-NL25E1OV

Rasterkraftmikroskop (AFM)

Klassifizierung

CPV-Codes

38000000Labor- & Messgeräte38511100Labor- & Messgeräte

NUTS-Codes

DEA5A

Details

Angebotsfrist
20.02.2025
Referenznummer
02-NL25E1OV
Plattform
Bund, TED

Kontaktinformationen

Telefon
+49 251411691
Adresse
Universität SiegenAdolf-Reichwein-Str. 2a57076 SiegenDEU

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