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München, Fraunhofer-Gesellschaft - Halbleiter-Testsystem (Mixed-Signal SOC Test System)

Abgeschlossen
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
München, DEU
Veröffentlicht: 29.08.2025

Diese Ausschreibung ist beendet

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Zeitplan

Bekanntmachung29.08.25
Angebotsfrist01.10.25

Beschreibung

Die Fraunhofer-Gesellschaft (Einkauf B12) in München schreibt ein Halbleiter-Testsystem (Mixed-Signal SOC Test System) aus. Das System dient der Post-Silicon-Verifikation, Charakterisierung und dem Funktionstest von integrierten Schaltungen und Chiplets. Es muss Schnittstellen für zusätzliche Laborgeräte wie Präzisions-SMUs, Oszilloskope und einen manuellen oder halbautomatischen Wafer-Prober bieten und Hard- sowie Softwarekompatibilität mit einem bestehenden Advantest V93000 Testsystem aufweisen.

Lose (1)

Los LOT-0000

Semiconductor test system (mixed-signal test system) SOC Test System - PR1025624 - 2270-W

Klassifizierung

CPV-Codes

31000000Elektrische Maschinen

NUTS-Codes

DE212

Details

Angebotsfrist
01.10.2025
Referenznummer
PR1025624 - 2270-W
Plattform
Bund, TED

Kontaktinformationen

Telefon
+49 00000000
Adresse
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12Hansastraße 27c80686 MünchenDEU

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