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Abgeschlossen

München, Fraunhofer-Gesellschaft - Halbleiter-Testsystem (Mixed-Signal SOC Test System)

Auftraggeber:
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
Region:
München, DEU
Veröffentlicht:
29.08.2025
Angebotsfrist
01.10.2025Abgelaufen

Zeitplan

  1. Bekanntmachung
  2. Angebotsfrist

Beschreibung

Die Fraunhofer-Gesellschaft (Einkauf B12) in München schreibt ein Halbleiter-Testsystem (Mixed-Signal SOC Test System) aus. Das System dient der Post-Silicon-Verifikation, Charakterisierung und dem Funktionstest von integrierten Schaltungen und Chiplets. Es muss Schnittstellen für zusätzliche Laborgeräte wie Präzisions-SMUs, Oszilloskope und einen manuellen oder halbautomatischen Wafer-Prober bieten und Hard- sowie Softwarekompatibilität mit einem bestehenden Advantest V93000 Testsystem aufweisen.

Lose (1)

  • Los LOT-0000

    Semiconductor test system (mixed-signal test system) SOC Test System - PR1025624 - 2270-W

Klassifizierung

CPV-Codes
31000000Elektrische Maschinen
NUTS-Codes
DE212

Details

Angebotsfrist
01.10.2025
Referenznummer
PR1025624 - 2270-W
Plattform
Bund, TED

Kontaktinformationen

Telefon
+49 00000000
Adresse
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12Hansastraße 27c80686 MünchenDEU

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