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Hochauflösendes Röntgendiffraktometer für Halbleiterstrukturen

Abgeschlossen
Beschaffungsamt des BMI
DEU
Veröffentlicht: 08.01.2024

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Zeitplan

Bekanntmachung08.01.24
Angebotsfrist09.02.24

Beschreibung

Beschaffung eines hochauflösenden Röntgendiffraktometers mit integrierter Euler-Wiege und horizontaler Probenaufnahme. Das Gerät dient zur Charakterisierung von einkristallinen Halbleiterstrukturen auf Basis von GaAs, InP und GaSb. Die genauen Spezifikationen sind den Vergabeunterlagen zu entnehmen.

Lose (1)

Los #1

hochauflösendes Röntgendiffraktometer

Klassifizierung

CPV-Codes

38530000Labor- & Messgeräte

NUTS-Codes

DE212

Details

Angebotsfrist
09.02.2024
Plattform
Bund, TED

Kontaktinformationen

Telefon
0228 99 610 1234
Adresse
Beschaffungsamt des BMIBrühler Str. 353119 BonnDEU

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