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Fraunhofer IPMS Dresden - Kontaktwinkelmessgerät für Halbleitertechnologie

Abgeschlossen
Fraunhofer Institut Photonische Mikrosysteme IPMS
01109 Dresden, DEU
Veröffentlicht: 15.09.2025

Diese Ausschreibung ist beendet

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Zeitplan

Bekanntmachung15.09.25
Angebotsfrist30.09.25

Beschreibung

Beschaffung eines vollautomatischen Kontaktwinkelmessgeräts für die Halbleitertechnologie am Fraunhofer IPMS in Dresden. Das Gerät soll die Kontaktwinkelhomogenität auf Siliziumwafern bis 300mm vollautomatisch messen und zur Prozesscharakterisierung eingesetzt werden.

Lose (1)

Los 1

Kontaktwinkelmessgerät

Klassifizierung

NUTS-Codes

DED

Details

Angebotsfrist
30.09.2025
Plattform
Bund

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