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Fraunhofer-Gesellschaft - Röntgendiffraktometer (XRD) für Dünnschichtanalyse

Abgeschlossen
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
DEU
Veröffentlicht: 26.01.2024

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Zeitplan

Bekanntmachung26.01.24
AngebotsfristNicht verfügbar

Beschreibung

Die Fraunhofer-Gesellschaft (Einkauf B12) beschafft ein Röntgendiffraktometer (XRD) für die strukturelle Analyse von ultra-dünnen Filmen (Dicke < 10 nm) auf 200 mm Wafern. Das Gerät wird in einem Reinraum der Klasse ISO 4 betrieben und erweitert die bestehende Infrastruktur für Wafer-Bearbeitung und Metrologie am Fraunhofer IMS.

Lose (1)

Los LOT-0000

Röntgendiffraktometer (XRD) - PR491025-2380-W

Klassifizierung

CPV-Codes

38947000Labor- & Messgeräte

NUTS-Codes

DEA12

Details

Angebotsfrist
Nicht verfügbar
Referenznummer
PR491025-2380-W
Plattform
Bund, TED

Kontaktinformationen

Telefon
0228 99 610 1234
Adresse
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12Hansastraße 27c80686 MünchenDEU

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Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
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