Fraunhofer-Gesellschaft - Rasterelektronenmikroskop (REM) für Materialentwicklung

Die Fraunhofer-Gesellschaft sucht ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop (REM) für die Materialentwicklung am ICT. Benötigt werden hohe Auflösungen bei niedrigen Beschleunigungsspannungen, eine große Probenkammer für zusätzliche Module (z.B. in-situ Zug-Druck, Heiz-Kühl) und die Möglichkeit zum Arbeiten mit variablen Kammerdrücken für vakuum-empfindliche Proben. Zusätzlich sind Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) und Elektronenrückstreubeugung (EBSD) erforderlich, die für strahlsensitive Materialien geeignet sein müssen. Hohe Auflösungen sind ohne elektrisches Gegenfeld zu erreichen.