Fraunhofer-Gesellschaft Dresden - Inline 300 mm Full Wafer XRR Analysegerät
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Zeitplan
Beschreibung
Ausschreibung für ein Inline 300 mm Full Wafer Röntgendiffraktometer (XRR) für die Analyse von Halbleiterproben in Reinraumumgebung. Das Gerät muss für Beugungs- und Reflektometriemessungen geeignet sein und über einen vollautomatischen Loadport sowie notwendige Subsysteme verfügen. Optional werden ein zweiter Loadport, In-plane- und 1D-Detektoren, Software zur Korngrößenanalyse und eine verlängerte Gewährleistung angeboten.
Lose (1)
Inline 300 mm full wafer XRR (IPMS_CNT07.1) - PR878911-2480-P
Klassifizierung
CPV-Codes
NUTS-Codes
Details
- Angebotsfrist
- Nicht verfügbar
- Referenznummer
- PR878911-2480-P
- Plattform
- Bund, TED
- Quelle
- Originalquelle
Kontaktinformationen
- Telefon
- +49 00000000
- Adresse
- Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12Hansastraße 27c80686 MünchenDEU
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