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Abgeschlossen

Fraunhofer-Gesellschaft, Dresden - Analytic Prober (IPMS-MRS11.4) für Halbleiterwafer

Auftraggeber:
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Region:
Dresden, DEU
Veröffentlicht:
28.02.2025
Angebotsfrist
31.03.2025Abgelaufen

Zeitplan

  1. Bekanntmachung
  2. Angebotsfrist

Beschreibung

Beschaffung eines automatisierten Wafer Probers (Analytic Prober, Modell IPMS-MRS11.4) für elektro-optische Tests von MEMS- und OLED-Halbleiterwafern sowie nackten Dies (Chiplets) in einer CMOS-kompatiblen Reinraumumgebung (Klasse 4 EN ISO 14644-1). Das Gerät muss ausreichend Platz für die präzise Platzierung optischer Messgeräte über dem DUT bieten. Optional sind erweiterte Funktionen für Wafer Chuck, Probe Card Inspection, automatische Beladung von 200mm/300mm Wafern unterschiedlicher Dicke sowie manuelle Bestückung von Pocket-Wafern mit Chip-Alignment und eine erweiterte Garantie von 24 Monaten verfügbar.

Lose (1)

  • Los LOT-0000

    Analytic-Prober (IPMS-MRS11.4) - PR863933-2480-P

Klassifizierung

CPV-Codes
42990000Industriemaschinen
NUTS-Codes
DED21

Details

Angebotsfrist
31.03.2025
Referenznummer
PR863933-2480-P
Plattform
Bund, TED

Kontaktinformationen

Telefon
+49 00000000
Adresse
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12Hansastraße 27c80686 MünchenDEU

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