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Archiv: Frist abgelaufen am 18.11.2024

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Abgeschlossen

Fraunhofer AISEC, Garching - IC Scanner für Nahfeld EM-Messungen

Auftraggeber:
Fraunhofer-Institut für Angewandte und Integrierte Sicherheit AISEC
Region:
Fraunhofer-Institut AISEC Lichtenbergstraße 11 85748 Garching b. München, DEU
Veröffentlicht:
06.11.2024
Angebotsfrist
18.11.2024Abgelaufen

Zeitplan

  1. Bekanntmachung
  2. Angebotsfrist

Beschreibung

Beschaffung eines IC Scanners für Nahfeld EM-Messungen über geöffneten Chips sowie bestückten Leiterplatten. Das Gerät soll für die Analyse von elektromagnetischen Feldern im Nahbereich eingesetzt werden.

Lose (1)

  • Los LOT-0000

    IC Scanner

Klassifizierung

CPV-Codes
38520000Labor- & Messgeräte
NUTS-Codes
DE2

Details

Angebotsfrist
18.11.2024
Plattform
Bund

Kontaktinformationen

Adresse
Fraunhofer-Institut für Angewandte und Integrierte Sicherheit AISECLichtenbergstraße 1185748 GarchingDEU

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