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BAPersBw I 1.5.2.3 Team Beschaffung BFD/ZAW
€
Frist: 27.10.2026
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Das Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS in Chemnitz sucht den Kauf eines Desktop-Rasterelektronenmikroskops (REM) mit elektrischer Messfunktion. Das Gerät soll die Analyse der Materialstöchometrie an der Probenoberfläche während der elektrischen Charakterisierung ermöglichen und eine elektrische Kontaktierung von Proben unterstützen.
Rasterelektronenmikroskop mit elektrischer Messfunktion
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