Beschaffung Rasterelektronenmikroskop für Materialentwicklungslabor

Beschaffung eines hochauflösenden Rasterelektronenmikroskops (REM) mit Feldemissionsquelle für ein Materialentwicklungslabor. Das Gerät muss im Hoch- und Niedervakuum betreibbar sein, eine minimale Auflösung von 1.0 nm erreichen und verschiedene Elektronensignale detektieren können. Eine motorisierte Probenbühne mit mindestens 100 mm x 100 mm lateralem Verfahrweg ist erforderlich.